DQZHAN技術訊：LED產品檢測分析 LED 產品擁有廣闊的市場前景勿庸置疑，尤其是在照明領域。如果 LED 光源廣泛應用于照明領域將是人類照明史上的一場**。但受技術等因素的限制目前還不能廣泛推展。LED (Light Emitting Diode) ，又稱發(fā)光二極管，是利用固體半導體芯片作為發(fā)光材料，當兩端施加正向電壓時，半導體中的載流子發(fā)生復合，放出過剩的能量而引起光子發(fā)射產生可見光、遠紅外、近紅外光。 LED 是一種新型的固態(tài)光源，已經(jīng)在特殊領域顯現(xiàn)出自身優(yōu)異的效果，各種類型的 LED 、利用 LED 作二次開發(fā)的產品及與 LED 配套的產品發(fā)展迅速，新產品不斷上市，已發(fā)展成不少新型產業(yè)。展望將來，還期望更進一步地提升。 熱像儀在 LED 行業(yè)中有哪些主要應用點？ 事實上， LED 的實際壽命與工作溫度往往成反比，如 LED 使用壽命在工作溫度為 74 ℃ 為 10000 小時、 63 ℃ 為 25000 小時，小于 50 ℃ 時，則可為 50000 小時。根本原因是 LED 的光電轉換效率極差，大約只有 15% 至 20% 左右電能轉為光輸出，其余均轉換成為熱能，因此，當大量使用高功率的 LED 于一塊模塊，應用于高亮度的操作時，這些極差的轉換效率將造成散熱處理的大問題。 熱像儀不僅在研發(fā)過程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應用在產品的質量管理等方面。 1. 研發(fā)，主要是對 LED 模塊驅動電路（包括電源）、光源半導體發(fā)熱分布分析、及光衰測試等。 a ） LED 模塊驅動電路 在 LED 產品研發(fā)中，需要工程師進行一部分驅動電路設計，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設計。 b ） LED 光源半導體芯片發(fā)熱 利用熱像儀，工程師可以所得到的光源半導體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎，達到提升 LED 產品壽命的目的 c ）光衰試驗 LED 產品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現(xiàn)階段全球的 LED 大廠們做出的 LED 產品光衰程度都不相同， 大功率 LED 同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關系，主要是由芯片、熒光粉和封裝技術決定的。目前，市場上的白光 LED 其光衰可能是向民用照明進軍的首要問題之一。 2. 質量管理 a ）半導體照明︰吹制燈泡均勻性 透過熱像儀抓拍產線玻璃吹泡的過程，進行參數(shù)修正，改善掐口工藝，可以有效提升產品成品率，降低成本。 b ） LED 檢測芯片封裝前的溫度 LED 芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好的幫助客戶發(fā)現(xiàn)此處的問題，作為流水線檢測工具。 c ） LED 成品顯示屏開機測試 LED 顯示屏完成后，要做*后驗收，透過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數(shù)企業(yè)都沒有這個流程。使用熱像儀后，能夠為廠家完善產品檢測標準，提升產品的質與量。 采用此方案的客戶包括： 飛利浦、松下等。 紅外熱像儀的特殊功能 在使用熱像儀前， LED 產品企業(yè)一直都沒有很好的解決這個問題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮特殊功能于以下狀況︰ 1. 透過紅外線熱像儀檢測目標時，不需要斷電，操作方便，同時非接觸測量使原有的溫度場不受干擾；響應速度較快，小于 1 毫秒。 2. Fluke 熱像儀 IR-Fusion 技術︰使用者采用 Fluke ** IR-Fusion 技術除了可以拍攝紅外圖像外，還可以同時捕獲一幅可見光照片，并將其融合在一起，有助于**時間識別和定位故障。 拍攝時可能會遇到哪些問題？ 可能由于觀察目標較小，使用 160×120 熱像儀時，會發(fā)生很難發(fā)現(xiàn)準確的故障點，需要我們更換 320×240 熱像儀（甚至需要更換鏡頭）進行檢測。 如何才能拍攝上等紅外熱像？ 使用熱像儀進行拍攝時，若要得到一幅優(yōu)良的紅外熱圖，我們建議︰ 1. 需要分辨較小溫差的場合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀； 2. 先用自動模式測量溫度范圍；然后手動設定水平及跨度，將溫度范圍設定在*小，并包含有先前測量的溫度范圍。
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